作者:标准资料网 时间:2024-05-14 13:24:27   浏览:9042   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part16-10:TechnologyApprovalSchedule(TAS)formonolithicmicrowaveintegratedcircuits
【原文标准名称】:半导体器件.第16-10部分:单片型微波集成电路的技术验收程序(TAS)
【标准号】:IEC60747-16-10-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;测量技术;单片型集成电路;尺寸选定;测量;集成电路工艺;集成电路;认可;参数;开关电路;微波电路;控制图;半导体器件;半导体;电气工程;微电子学;半导体存储器;单片的
【英文主题词】:Approval;Basicterms;Chips;Controlcharts;Definitions;Delivery;Dimensioning;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enterprises;Erecting(constructionoperation);Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microwavecircuits;Monolithic;Monolithicintegratedcircuits;Parameters;Qualityassurance;Semiconductordevices;Semiconductormemory;Semiconductors;Specification(approval);Switchingcircuits;Symbols;Testing
【摘要】:Specifiestheterms,definitions,symbols,qualitysystem,test,assessmentandverificationmethodsandotherrequirementsrelevanttothedesign,manufactureandsupplyofmonolithicmicrowaveintegratedcircuitsincompliancewiththegeneralrequirem
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:62P.;A4
【正文语种】:英语