作者:标准资料网 时间:2024-05-28 23:39:03   浏览:9638   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Measurementofcarrierlifetimeinsiliconsinglecrystals-Recombinationcarrierlifetimeatlowinjectionbyphotoconductivitymethod
【原文标准名称】:半导体工艺材料的试验.硅单晶中载流子寿命的测量.用光电导法在微小喷射时测量复合载流子寿命
【标准号】:DIN50440-1998
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1998-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;硅;材料试验;半导体工艺;测量;试验;定义;寿命;元部件;电气工程;半导体工程;半导体;寿命试验;单晶;测量技术;光电导性
【英文主题词】:Carrierlife;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Life(durability);Lifetest;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Photoconductivity;Recombination;Semiconductorengineering;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Singlecrystal;Testing
【摘要】:Themethodaccordingtothedocumentcoversthedeterminationoftherecombinationcarrierlifetimeatlowinjectionbythephotoconductivedecaymethod.
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语